top of page
Electric Equipment.png

CEM/Électrique //

Équipement de sécurité

NOS MARQUES //

Detectus_Pendulum logo.png
Anchor 1

Vous pouvez maintenant VOIR les champs électromagnétiques à haute fréquence. Il existe des exigences élevées en matière de compatibilité électromagnétique (CEM) des produits électroniques. Les demandes sont énoncées dans différents ensembles de règles, par exemple VCCI, ANSI, CISPR, FCC et VDE. Ces exigences sont spécifiées pour des produits ou des systèmes et non pour des composants ou des éléments. Le fait qu'il n'y ait pas de moyen facile de trouver l'emplacement exact d'une source rayonnante est aujourd'hui un problème pour les concepteurs.

Detectus AB a développé un système de mesure avec lequel les concepteurs peuvent mesurer l'intensité et l'emplacement d'une source de rayonnement au niveau d'un composant. Les résultats d'une telle mesure peuvent être affichés sous forme de cartes colorées en deux ou trois dimensions

Pourquoi utiliser un scanner EMC

  • Vous économisez du temps et de l'argent en réduisant vos besoins en mesures à grande échelle coûteuses et chronophages.

  • Vous pouvez voir l'émission au niveau des composants.

  • Au début de la phase de conception, vous pouvez détecter les problèmes d'émission potentiels.

  • Vous pouvez effectuer des mesures comparatives pour documenter l'effet d'un changement de conception. (Utile lorsqu'il est nécessaire d'archiver les modifications de conception.)

  • Vous pouvez maintenir une haute qualité dans la ligne de production en mesurant des échantillons et en les comparant à une référence.

  • Vous n'avez pas besoin de savoir quelles fréquences vous recherchez grâce à la fonction Prescan.

  • Vous pouvez utiliser vos propres instruments

  • Vous pouvez facilement documenter (ISO900x) les spectres d'émission de vos produits en phase de conception et de production

Scanner pics_edited.jpg
detectus3.png
detectus4.png
langer_logo.gif

Sondes de champ proche (champ E et H), préamplificateurs, émissions de perturbations du système de développement, ensemble transformateur HF. Appareils de test et de mesure CEM de pré-conformité.  Mesurer l'immunité aux perturbations : immunité aux perturbations du système de développement, sondes de champ magnétique, générateurs de MINI-rafales, ensembles de sources de champ, transformateur de rafale, acquisition de signal optique (1/2/4 canaux), sonde à fibre optique analogique, détecteurs de rafale Mesure des émissions rayonnées

langer1.jpeg
langer2.jpeg
langer3.jpeg
Anchor 2

Groupe électrogène de champ mini burst P1

Les générateurs de mini-champs de salve E et B contenus dans l'ensemble P1 génèrent un champ d'impulsions local d'une intensité et d'une pente extrêmes à la pointe de la sonde. Ce champ impulsionnel correspond au champ qui se développe sous l'influence des processus burst et ESD sur les modules électroniques. Les points faibles peuvent être localisés et leur type (champ E/B) et leur sensibilité peuvent être déterminés grâce aux champs E ou B émis localement.

P1-mini-burst-field-generator-set2.jpeg
bottom of page